新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實驗室材料表征研究推向一個新高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規成像應用中十分實用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節水平的圖像。

X射線是表面殘余應力測定技術中為數不多的無損檢測法之，是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應力分析和檢測方法之，被廣泛的應用于科學研究和工業生產的各域。2012年日本Pulstec公司開發出基于全二維探測器技術的殘余應力分析儀——μ-X360n，將用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了個全新的高度，設備推出不久便得到業界好評

mIRage O-PTIR （Optical Photothermal Infrared）光譜儀是由美國PSC （Photothermal Spectroscopy Corp, 前身Anasys公司）新發布的款款應用廣泛的顯微紅外?；?的光熱誘導共振（PTIR）技術，mIRage產品突破了傳統紅外的光學衍射限，其空間分辨率高達500

mIRage O-PTIR （Optical Photothermal Infrared）光譜儀是由美國PSC （Photothermal Spectroscopy Corp, 前身Anasys公司）新發布的款款應用廣泛的亞微米紅外?；?的光熱誘導共振（PTIR）技術，mIRage產品突破了傳統紅外的光學衍射限，其空間分辨率高達500

neaSCOPE近場光學已成為納米光學域熱點研究方向的前沿科研設備，在等離子激元、二維材料聲子化、半導體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發及衰減過程等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。